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GISETCH®刻蝕技術 當前位置:主頁 > 技術說明 > GISETCH®刻蝕技術


 
GISETCH®是北京丹普公司的注冊商標,是氣體離子刻蝕及輔助沉積技術的簡稱,基本原理如下:

① 在塗層前,利用GIS氣體離子源將氩氣和氫氣離化,產生的氣體離子(Ar+和H+)在偏壓作用下,對现有產品表面進行刻蝕清洗;
② 在塗層中,利用GIS氣體離子源將氩氣、氮氣、氧氣等反應氣體離化,輔助溅射或電弧沉積;

GISETCH®的優點如下:

① 氣體等離子體能量範圍寬,可強可弱,適用于各種類型的工件;
② 有效去除表面氧化層,刻蝕清洗效果更徹底,膜基結合力好;
③ 輔助沉積,有利于塗層致密性、改善镀膜均勻性;


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